一文搞懂IGBT的损耗与结温计算 (igbt igbt)
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图1.TO−封装,显示了IGBT芯片(左)和二极管芯片(右)IGBT开通图2.IGBT开通损耗波形将开通波形的电压和电流相乘,即可计算出该周期的功率。功率波形的积分显示在屏幕底部。这就得出了IGBT开通损耗的能量。功率测量开始和结束的时间点可以任意选择,但是一旦选定了一组标准,测量就应始终遵循这些标准。IGBT导通损耗图3.IGBT传导损耗波形导通损耗发生在开通损耗区和关断损耗区之间。同样应使用积分,因为该周期内的功率并不是恒定的。IGBT关断图4.IGBT关断损耗波形开通、导通和关断损耗构成了IGBT芯片损耗的总和。关断状态损耗可以忽略不计,不需要计算。为了计算IGBT的总功率损耗,须将这三个能量之和乘以开关频率。IGBT损耗必须使用阻性负载或在负载消耗功率的部分周期内进行测量。这样可消除二极管导通。图5.二极管导通损耗波形FWD反向恢复图6.二极管反向恢复波形图5和图6显示了二极管在整流器或电抗模式下工作期间的电流和电压波形。二极管损耗的计算类似于IGBT损耗。需要了解的是,损耗以半正弦波变化。需要考虑从峰值到过零的变化,以得出器件的平均功耗。IGBT和二极管功耗计算测量完这五个损耗分量后,需要将它们与测量条件相关联,以便计算每个芯片的总功耗。图7.感性负载波形图7显示了感性负载(如电机)的典型电压和电流波形。从t0到t1,电流为电抗性,二极管传导电流。从t1到t2,电流为阻性,IGBT传导电流。这些时间段的功耗具有重要价值。基于单个脉冲计算每个时间段的平均功耗非常复杂,但我们可以合理的精度进行估算。为此,我们需要计算该时间段的平均功耗。在这种情况下,有必要计算平均(或加热)当量。对于电压和电流值,它是均方根值;对于功率,它是平均值。平均功耗此公式计算的是正弦波每个四分之一部分的功率,因此要进行校正,我们需要在分母中添加一个因子4。只要电压过零点在0°和°之间(对于感性负载必定如此),这就是有效的,故公式变为:
二极管二极管在t0到t1期间传导电流。利用电压过零点的波形可得出二极管的峰值功耗。知道此功耗值后,我们可以使用t0到t1期间的平均功耗公式来求得二极管的平均功耗。此时间段的示例计算如下所示。2W功率出现在进入周期后的2.5ms时。要计算正弦波峰值处的等效功率,我们需要比较这两点的幅度。峰值幅度出现在°或π/2弧度处,相当于幅度1。2.5ms处的幅度为sin(π×2.5ms/ms)或0.,因此正弦波峰值处的功率为:IGBT对于正电压半周期,IGBT在t1到t2期间传导电流。IGBT的平均功耗计算与二极管功耗的计算方法类似。其示例计算如下所示。对于IGBT分析,我们将计算完整半正弦波期间(t0–t2)的IGBT功耗,然后计算二极管导通期间(t0–t1)的IGBT功耗,再从前一功耗中减去后一功耗。然后计算二极管导通期间的功耗由于t2=T/2,故公式变为芯片温度计算一旦计算出两个芯片的功耗值,就可以使用数据表中的曲线计算芯片温度。两个芯片的温度一般不相同。每个芯片有一个θ,并有一个交互作用系数Psi。θ是从芯片到封装外壳或引线的热阻,它有不同的名称,例如RΘJC是结至外壳热阻。Psi是一个常数,表示芯片中未被计算的热效应。它基于芯片之间的距离。通常,对于IGBT使用的大多数TO-和TO-封装,0.°C/W是一个合理的估计值。图8.IGBT热曲线图9.二极管热曲线图8和图9显示了典型封装中IGBT和二极管的热响应曲线。曲线上给出了直流值。对于IGBT,它是0.°C/W;对于二极管,它是1.°C/W。为了计算给定功率水平对应的稳态温度,只需要功耗值、直流θ和外壳温度。计算如下:示例:交互作用系数Psi=0.°C/WIGBT的稳态结温为:TJ-IGBT=.6°C(平均结温)二极管的稳态结温为:TJ-DIODE=.2°C(平均结温)为了计算峰值结温,我们可以将脉冲值增加到稳态(或平均)温度中。此计算需要上述计算得出的结温,并加上瞬时温度变化。唯一需要的新常数是IGBT或二极管对于所需脉冲宽度的脉冲值。在Hz的线频率下,半周期的时间为ms。根据图8,对于ms脉冲和%占空比,RIGBT值为0.°C/W;根据图9,相同条件下的RDIODE值为0.°C/W。基本公式如下:因此,对于上述条件,峰值结温为:总结仅使用θ值无法计算多芯片封装中的结温。利用从数字示波器获得的波形和数学公式,可以计算每个器件的功耗。给定IGBT的功耗、θ和psi,便可计算平均和峰值结温值。 标签: igbt igbt
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